任何产品都有标称寿命，但实际表现常常远超你的预期。
油管博主 WolfyTech 在 2010 年购入了一块闪迪 P4 SSD，搭载 32nm 制程的 2D MLC NAND 闪存颗粒，容量为 64GB（该系列覆盖 4GB 至 128GB），接口为 SATA 3Gbps，官方标称写入寿命为 40TBW。
令人震惊的是，在长达 16 年的使用中，这块硬盘累计写入了多达 1PB 数据，也就是 1000TB，相当于标称值的 25 倍。 这简直就是对“计划性报废”最有力的回击。
在此期间，硬盘累计通电超过 1100 次，加电时长突破 60000 小时，折合约 6 年零 10 个月。 目前，这块 SSD 的健康状态依然良好，没有任何失效的迹象。这不禁让人好奇，在如今 TLC 与 QLC 大行其道的时代，这种“传家宝”级别的耐久度是否已经绝迹？
NAND 闪存的寿命通常用 P/E（编程/擦写）循环次数 来衡量：当闪存擦除电荷层清空旧数据，并写入新数据时，即完成一次 P/E 循环。
在每一次循环中，浮栅或电荷俘获层都会产生极其轻微的物理损耗。因此，循环次数越多，闪存越容易出现漏电或读写出错的情况。但即便达到了厂商标称的 P/E 值，也并不代表硬盘会立即报废，其设计冗余量其实相当可观——这块闪迪硬盘就是极好的佐证。
事实上，NAND 闪存的进化史，从某个角度看，也是一部“减寿史”。当你感叹现在硬盘容量越来越大、价格越来越便宜时，背后的存储颗粒耐久度却在悄然变化。
最早期的 2D SLC 闪存，P/E 次数可高达 10 万次，但容量很小。随后的 2D MLC 闪存也能做到 3000 至 6000 次。 到了目前主流的 3D TLC、QLC 颗粒，标称寿命就分别只有约 3000 次和 1000 至 2000 次左右了。
不过，即便 QLC 的理论擦写寿命降低了，但配合现代主控的纠错算法优化，再辅以优质颗粒筛选，一块合格的 QLC SSD 的耐用性，满足绝大多数普通消费者的日常使用需求是完全没有问题的，大家不必对此过度焦虑。
如果你对这类硬件底层逻辑感兴趣，想要深入理解存储与运算之间的关系，不妨多补一补计算机基础方面的硬核知识，这会让你对硬件寿命有更理性的判断。 | 
发表于 7 小时前
|
查看: 5|
回复: 0
